СТАН ТА ПЕРСПЕКТИВИ РОЗВИТКУ ОПТИЧНИХ МЕТОДІВ НЕРУЙНІВНОГО КОНТРОЛЮ ВНУТРІШНІХ НАПРУЖЕНЬ ТА ДЕФЕКТІВ В ОПТИЧНИХ МАТЕРІАЛАХ
DOI:
https://doi.org/10.26642/tn-2014-1(68)-66-73Ключові слова:
оптичні методи неруйнівного контролю, внутрішні напруження та дефекти, оптичні матеріали, телевізійно-інформаційні вимірювальні системиАнотація
Технологічний рівень суспільства визначається наявністю не лише досконалих технологій отримання нових речовин, матеріалів та виробів, але й відповідних інформаційних методів і засобів контролю. В роботі експериментально доведена можливість використання дисплейних екранів комп’ютера як джерела поляризованого випромінювання. Показано, що спеціальний прилад ПКС-250, який має обмеження геометричних розмірів деталей до 250 мм, що контролюються за наявності внутрішніх напружень, можливо замінити на дисплейний екран розміром, що відповідає завданням контролю. Для прецизійних вимірювань внутрішніх напружень та їх розподілу в оптичних деталях запропоновано використання поляризаційно-модуляційного способу. Проаналізовано перспективність телевізійно-інформаційних вимірювальних систем для контролю внутрішніх дефектів в деталях із оптичних матеріалів. Важливим чинником, який дозволяє телевізійним вимірювальним засобам займати провідне місце серед аналогічних засобів, є наявність в їх структурі обчислювальних засобів (комп’ютера) та використання потужною арсеналу програмного забезпечення.Посилання
Афанасьев В.А. Оптические измерения : учебник / В.А. Афанасьев. – М. : Высшая школа, 1981. – 229 с.
Пат. України на корисну модель № 78911 від 10.04.2013 р. Застосування плоского дисплейного або телевізійного екрану в стані включення в електричну мережу живлення персонального комп’ютера або телевізора як джерела поляризаційного випромінювання / Є.Ф. Венгер, В.П. Маслов, О.І. Семенець, Н.В. Качур, С.М. Кущовий. – Бюл. № 7. – 2013.
Зубаков В.Г. Технология оптических деталей : учебник / В.Г. Зубаков, М.Н. Семибратов, С.К. Штандель ; под ред. М.Н. Семибратова. – 2-е изд., перераб. и доп. – М. : Машиностроение, 1985. – 368 с.
Мильвидский М.Г. Структурные дефекты в кристаллах полупроводников / М.Г. Мильвидский, В.Б. Освенский. – М. : Металлургия, 1984. – 256 с.
Маслов В.П. Підвищення точності вимірювання лінійних розмірів мікродефектів в деталях з оптично прозорих матеріалів за допомогою телевізійних засобів / В.П. Маслов // Методи та прилади контролю якості. – 2012. – № 2 (29). – С. 96–101.
Порєв Г.В. Концептуальні аспекти використання приладів з електронним розгортанням зображення для аналізу оптичних полів / Г.В. Порєв, В.А. Порєв // Наукові вісті НТУУ “КПІ”. – 2001. – № 1. – С. 56.
Пат. України на корисну модель № 82800 від 12.08.2013 р. Спосіб контролю авіаційного органічного скла / О.І. Семенець, В.Я. Дереча, В.Ф. Самойленко, Є.Ф. Венгер, В.П. Маслов, Н.В. Качур. – Бюл. № 15.
Химическая технология стекла и ситаллов / М.В. Артамонова, М.С. Асланова, И.М. Бужинский и др. ; ред. Н.М. Павлушин. – М. : Стройиздат, 1983. – 432 с.
Комплексні дослідження якості сапфірових вікон сучасними неруйнівними методами / Б.К. Сердега, І.Є. Матяш, П.М. Литвин та ін. // Вісник НТУУ «КПІ» / Серія : Приладобудування. – 2012. – Вип. 43. – С. 54–60.
Сердега Б.К. Модуляційна поляриметрія : монографія / Б.К. Сердега. – К. : Наукова думка, 2011. – 260 с.
Сулим А.В. Производство оптических деталей / А.В. Сулим. – М. : Высшая школа, 1975. – 316 с.
Хетеньи М. Фотоупругость и фотопластичность / М.Хетеньи // Механика : сб. сокр. пер. – 1961. – Т. 65, № 1. – С. 119–145.
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2020 Володимир Петрович Маслов, Наталія Володимирівна Качур
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Автор, який подає матеріали до друку, зберігає за собою всі авторські права та надає відповідному виданню право першої публікації, дозволяючи розповсюджувати даний матеріал із зазначенням авторства та джерела первинної публікації, а також погоджується на розміщення її електронної версії на сайті Національної бібліотеки ім. В.І. Вернадського та у відкритому доступі в електронному архіві університету та на сайті журналу.
