РЕЗУЛЬТАТИ ДОСЛІДЖЕНЬ ЕЛЕКТРОФІЗИЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК КРЕМНІЄВИХ ЛАВИННО-ПРОЛІТНИХ ДІОДІВ
DOI:
https://doi.org/10.26642/tn-2014-1(68)-97-101Ключові слова:
лавинно-пролітний діод, вольт-амперна характеристика, Si, SiC, GaAs, InP, терагерцовий діапазон, дифузія, генераціяАнотація
Систематизовано конструкції лавинно-пролітних діодів надвисокочастотного діапазону хвиль за типом модифікації пролітної області. Показані результати як отриманих вихідних параметрів напівпровідникових приладів на основі Si, SiC, GaAs, так і теоретично можливі, включно з діодами на основі InP. Отримані значення вказують на перевагу кремнієвої технології конструювання лавинно-пролітних діодів як таку, що станом на сьогодні є найбільш вивчена та запроваджена у виробництві. Такі результати порівнюються з іншими вихідними значеннями напівпровідникових приладів, зокрема з діодами на основі матеріалів групи А3В5. Дослідження проводиться шляхом вимірювання прямої та зворотної гілок вольт-амперної характеристики (ВАХ). Визначені механізми струмопротікання через p-n-перехід кремнієвого лавинно-пролітного діоду на прямій ВАХ.
Посилання
Sze S.M. Physics of Semiconductor Devices, 3rd Edition / S.M. Sze, K.Ng Kwok. – A John Wiley & Sons, Inc., publication. – 2007. – 789 р.
Bowers H.S. Space-charge-induced negative resistance in avalanche diodes / H.S. Bowers // IEEE Trans. Electron. Dev. – 1986. – Vol. ED-15, N 6. – Pр. 343–350.
Tschernitz M. 140 GHz GaAs double-Read IMPATT diodes / M. Tschernitz, J. Freyer // Electronics Letters. – 1995. – Vol. 31. – No. 7. – Pр. 582–583.
Studies on optical modulation of III-V GaN and InP based DDR IMPATT diode at sub-millimeter wave frequency / Soumen Banerjee et al. // Internatinal Journal of Engineering Science and Technology. – 2010. – Vol. 2(7). – Pр. 2790–2801.
Eisele H. Two-Terminal Millimeter-Wave Sources / H.Eisele, G.Haddad // IEEE trans¬actions on microwave theory and techniques. – 1998. – Vol. 46. – No. 6. – P. 739–745.
Lutz J. IMPATT oscillations in fast recovery diodes due to temporarily charged radiation-induced deep levels / J.Lutz, W.Sudkamp, W.Gerlach // Solid-State Electronics. – 1998. – Vol. 42. – No. 6. – Pр. 931–938.
De P. Epitaxial layer induced series resistance and microwave properties of N+NP+.
De P. Si X band IMPATT diodes / P.De // Microelectronics Journal. – 2006. – Vol. 37. – Pр. 786–791.
Zemliak A. Numerical analysis of a double avalanche region IMPATT diode on the basis of nonlinear model / A.Zemliak, R.Cruz // Microelectronics Reliability. – 2006. – Vol. 46. – P. 293–300.
Computer simulation study on the noise and millimeter wave properties of InP : GaInAs heterojunction double avalanche region IMPATT diode / J.K. Mishra, G.N. Dash, S.R. Pattanaik et al. // Solid-State Electronics. – 2004. – Vol. 48. – Pр. 401–408.
Haddad G.I. Microwave Solid-State Active Devices / Haddad G.I., Trew R.J. // IEEE MTT. – 2002. – V. 50, N 3. – Рp. 760.
Влияние перегрева p-n-перехода на деградацию мощных импульсных кремниевых лавинно-пролетных диодов / А.Е. Беляев, В.В. Басанец, Н.С. Болтовец и др.// ФТП. – 2011. – Т. 45. – № 2. – С. 256–262.
Грехов И.В. Лавинный пробой p-n-перехода в полупроводниках / И.В. Грехов, Ю.Н. Сережкин. – Ленинград : Энергия, 1980. – 146 с.
Кремниевые диффузионные диоды с вольт-амперными характеристиками, близкими к идеальными / Н.С. Болтовец, К.А. Исмайков, Р.В. Конакова и др. // ЖТФ. – 1998. – Т. 68, № 10. – С. 131–132.
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право (c) 2020 Віктор Сергійович Сліпокуров
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
Автор, який подає матеріали до друку, зберігає за собою всі авторські права та надає відповідному виданню право першої публікації, дозволяючи розповсюджувати даний матеріал із зазначенням авторства та джерела первинної публікації, а також погоджується на розміщення її електронної версії на сайті Національної бібліотеки ім. В.І. Вернадського та у відкритому доступі в електронному архіві університету та на сайті журналу.