ФРАКТАЛЬНА ГЕОМЕТРІЯ ПОВЕРХНІ ГЕТЕРОСТРУКТУР CdX Hg1XTe - Zn0.04Cd0.96Te , ЩО СФОРМОВАНІ ОСАДЖЕННЯМ З РІДКОЇ ФАЗИ

Автор(и)

  • Павло Петрович Москвін Житомирський державний технологічний університет, Україна https://orcid.org/0000-0001-5034-8097
  • Олександр Анатолійович Гутніченко Житомирський державний технологічний університет,
  • В'ячеслав Борисович Крижанівський Житомирський державний технологічний університет, Україна https://orcid.org/0000-0002-0639-0754
  • Любомир Васильович Рашковецький Інститут фізики напівпровідників ім. В.Е. Лашкарьова НАН України, Україна

DOI:

https://doi.org/10.26642/tn-2012-2(61)-41-47

Анотація

Методами атомно-силової мікроскопії (AFМ-спектроскопія) досліджена поверхня гетероструктури CdX Hg1XTe - Zn0.04Cd0.96Te, що сформована осадженням шарів з рідкої фази. Оцифроване зображення поверхні оброблялося методами мультифрактального аналізу. Обчислені мультифрактальні параметри, що характеризують стан поверхні структури (числа Реньї та мультифрактальні міри упорядкування). Виявлена фрактальна симетрія (Ф-симетрія) поверхні гетероструктури. Порівняння величин мультифрактальних параметрів шарів, які досліджено в роботі, з аналогічними параметрами високоякісних структур на основі напівпровідникових нітридів А3В5, показало меншу величину мультифрактальної міри впорядкованості структури поверхні гетерокомпозиції. Застосування фрактальної геометрії до оцінок вільної поверхневої енергії Гіббса фази показало, що використання такої геометрії відкриває можливість домогтися обмеження по величині поверхневих термодинамічних функцій системи, які в рамках класичної геометрії, катастрофічно швидко зростають по мірі зменшення розмірів частинок середовищ, що беруть участь у міжфазній взаємодії. 

Посилання

Шмидт Н.М. Полупроводниковые самоорганизованные наноматериалы – нелинейные системы с фрактальной размерностью : автореф. … докт. физ.-мат. наук / Н.М. Шмидт. – СПб. : ФТІ ім. А.Ф. Йоффе, 2009. – 35 с.

Встовский Г.В. Введение в мультифрактальную параметризацию структур материалов / Г.В. Встовский, А.Г. Колмаков, И.Ж. Бунин. – М. : Центр «Регулярная и хаотическая динамика», 2001. – С. 116.

Встовский Г.В. Элементы информационной физики / Г.В. Встовский. – М. : МГИУ, 2002. – 260 с.

Когерентные фазовые равновесия в системе Zn-Cd-Te и жидкофазная эпитаксия упругодеформированных слоев твердых растворов ZnxCd1-xTe / П.П. Москвин, Л.В. Рашковецкий, Ф.Ф. Сизов и др. // Физика и техника полупроводников. – Т. 45, Вып. 7. – 2011. – С. 46.

Федер Е. Фракталы / Е.Федер. – М. : Мир, 1991. – 259 с.

Кузнецов В.В. Неравновесные явления при жидкостной гетероэпитаксии полупроводниковых твердых растворов / В.В. Кузнецов, П.П. Москвин, В.С. Сорокин. – М. : Металлургия, 1991. – 174 с.

##submission.downloads##

Опубліковано

2015-10-12

Як цитувати

Москвін, П. П., Гутніченко, О. А., Крижанівський, В. Б., & Рашковецький, Л. В. (2015). ФРАКТАЛЬНА ГЕОМЕТРІЯ ПОВЕРХНІ ГЕТЕРОСТРУКТУР CdX Hg1XTe - Zn0.04Cd0.96Te , ЩО СФОРМОВАНІ ОСАДЖЕННЯМ З РІДКОЇ ФАЗИ. Вісник ЖДТУ. Серія "Технічні науки", (2(61), 41–47. https://doi.org/10.26642/tn-2012-2(61)-41-47

Номер

№ 2(61) (2012)

Розділ

Машинознавство

Ліцензія

Авторське право (c) 2020 Павло Петрович Москвін, Олександр Анатолійович Гутніченко, В'ячеслав Борисович Крижанівський, Любомир Васильович Рашковецький

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

Автор, який подає матеріали до друку, зберігає за собою всі авторські права та надає відповідному виданню право першої публікації, дозволяючи розповсюджувати даний матеріал із зазначенням авторства та джерела первинної публікації, а також погоджується на розміщення її електронної версії на сайті Національної бібліотеки ім. В.І. Вернадського та у відкритому доступі в електронному архіві університету та на сайті журналу.